روابط مهمة

استعادة كلمة المرور صفحتنا على الفيس بوك
لأي مشاكل تواجهك .. لاتتردد بالإرسال لنا بالضغط هنا

 

الآن خدمة الـ rss متوفرة بمكتبتناً العربية

 

شريط الإعلانات ||

أهلا وسهلا بكم في منتديات مكتبتنا العربية **** نرجو من الأعضاء الكرام وضع طلبات الكتب في القسم الخاص بها في المنتدى الإداري العام قسم الاستفسارات وطلبات الكتب *** لا يسمح بوضع الإعلانات في المكتبة، وسنضطر لحذف الموضوع وحظر صاحبه مع الشكر ***
Loading

 


   
 
العودة   منتديات مكتبتنا العربية > الأقسام العامــــة > قسم العلوم التطبيقية > كتب متنوعة في العلوم التطبيقية > كتب متنوعة بصيغ أخــرى في العلوم التطبيقية
 
 

إنشاء موضوع جديد إضافة رد
 
أدوات الموضوع ابحث في الموضوع انواع عرض الموضوع
قديم 26-01-2015, 08:40 AM   #1
مرووشة
عضو جديد
 
تاريخ التسجيل: Dec 2014
المشاركات: 21
المواضيع:
مشاركات:
من مواضيعي
 

افتراضي تقنية فلورة الأشعة السينية x-ray flourescence technique

تقنية فلورة الأشعة السينية
X-RAY FLOURESCENCE TECHNIQUE

بقلم الأستاذ المساعد فراس محمود هادي/ التدريسي في قسم علوم الفيزياء/ كلية العلوم / جامعة ديالى


تستخدم تقنية فلورة الأشعة السينية لتحليل العناصر النزرة أو تحليل العناصر بشكل عام، كتحليل نوعي Qualitative Analysis) ) و تحليل كمي (Quantitative Analysis ). ان تفريق الطاقة لتشتت فلورة الأشعة السينية (ED-XRF) هو واحد من أبسط الأساليب التحليلية الأكثر دقة والأكثر اقتصادية لتحديد التركيب الكيميائي لأنواع كثيرة من المواد. فهي تقنية تحليل غير تالفة للنماذج المقاسة وموثوق بها، ولا يتطلب تحضير النماذج لغرض القياس أي جهد علمي صعب وان إعداد العينات مناسب للصلبة والسائلة منها وان مسحوق العينات ويمكن استخدامه لمجموعة واسعة من العناصر، من الصوديوم (11) لليورانيوم (92)، ويوفر حدود الكشف(Detection Limit) على مستوى جزء من المليون ( (ppm؛ فإنه يمكن أيضا قياس تركيزات تصل إلى 100% وبسهولة في وقت واحد.في السنوات الأخيرةوضعت معايير الطيف عن طريق مواصلة تطوير التكنولوجيا لفلورة الأشعة السينية لخلق العديد من المجالات الجديدة من عملية القياس لطيف ED-XRF.

تقدم الشركات المصنعة مجموعة كاملة من اجهزة مطياف فلورة الأشعة السينية المحمولة مثل XRF المحمولة الصغيرة، xSORT وSPECTROSCOUT، مطياف المحمول هوالذي يستعمللتحليل العينات موقعيافي حقل العمل بدلا من المختبر.يجمع الطيف أيضا لتسويق مجموعة واسعة من كبار الطيف ED-XRF للمهام و تحليل العناصر الخاصة لمتعددة الأغراض لتحليل العناصر النزرة.

تشمل الاستخدامات النمطية تحليل الزيوت والوقود والبلاستيك والمطاط والمنسوجات والمنتجات الصيدلانية والمواد الغذائية ومستحضرات التجميل ومنتجات العناية بالجسم، والأسمدة، والمعادن والخامات والصخور والرمال، الأسمنت، مواد مقاومة للحرارة والزجاج والسيراميك، ورقائق. تحديد الطلاء على الورق، والأفلام، والبوليستروالمعادن. وتحديد المواد الايجابية، والفرز من السبائك المعدنية والزجاج والبلاستيك وفقا للمواد المكونة لها. ورصد النفايات الصلبة، النفايات السائلة، وسوائل التنظيف، والمرشحات.

تم تصميم الطيف xSORT XRF محلل للإنتاجية العاليةوان الاختبار الأولي والتحليل الطبقي الكيميائي من مجموعة واسعة من المعادن والمواد الأخرى في هذا المجال تمتاز في السرعة والدقة وسهولة الاستخدام ووضعت معايير جديدةللـــXRF والأداء الطيفي. عندما يتعلق الأمر بالمعدات الإيجابيةلتحديد المواد. ان طيفXRF كتقنية هو محلل نموذجي وهو الحل المثالي. كما أنها أي التقنية تعتبر مثالية للاستخدام كما في أي محلل بيئي ولتطبيقات XRFعديدة ومتنوعة منها إعادة التدوير من سبائك الألومنيوم ، وتحليل المعادن الثمينة، بالإضافة إلى التعدين .هنالك الكثير من الوظائف، مثل التحقق المادي، والطيف xSORT XRFيعتبر محلل يعطي نتائج تحليلات موثوق بها للغاية. وبالنسبة للنماذجالأكثر تعقيدا مثل الفحص البيئي، الطيف xSORT يحقق حدود الكشف منخفضة جدا دون الحاجة لإعداد نموذج معقد.

ان الطيف xSORT XRFهومحللله ميزات منهاتوفير التكاليف والوقت، كما في كاميرا الفيديو متكاملة الدقة ولاختبار بقعة وتخزين الذاكرة البصرية. وهو نظام عالمي متكامل لتحديد المواقع (GPS) التي تسمح للمستخدمين للعودة بسرعة إلى مواقع محددة في السابق دون مضيعة للوقت. ان تحليل فلورة الأشعة السينية باستخدام الطيف EDXRF هو أسلوب يستخدم عادة لتحديد وتقدير العناصر في مادة معينة. يستند طيف EDXRF على طريقة تحليل التشتت لطاقة فلورة اشعة-X- في مواد العينة، التي يمكن أن تكون أي الصلبة كمسحوق أو سائل كتلك اشعة X-والأشعة المنبعثة من أنبوب الأشعة السينية أو النظائر المشعة. لزيادة حساسية الاشعاع، وان الإشعاع الأساسي يمكن استقطابه باستخدام أهداف محددة بين أنبوب الأشعة السينية والعينة (ED-P (الاستقطاب) -XRF). يتم قياس جميع الاشارات وومضات عنصر محدد مجهولX-وان الاشعة المنبعثة من ذرات بعد التأين الكهروضوئي في وقت واحد في تركيبة كاشف أشباه الموصلات ثابتة . ان شدة الإشعاع من كل إشارة عنصر في النموذج يتناسب مع تركيز العنصر في العينة، ويتم إعادة حساب داخليا من مجموعة المخزنة من منحنيات المعايرة ويمكن أن نحسب التراكيز من ذلك بسهولة بطريقة المقارنة مع تركيز عنصر موجود في نموذج قياسي ((Standard Sample.

للمتابعة اضغط هنا .....

مرووشة غير متواجد حالياً   رد مع اقتباس
إنشاء موضوع جديد إضافة رد


يتصفح الموضوع حالياً : 1 (0 عضو و 1 ضيف)
 
أدوات الموضوع ابحث في الموضوع
ابحث في الموضوع:

بحث متقدم
انواع عرض الموضوع

ضوابط المشاركة
لا تستطيع إضافة مواضيع جديدة
لا تستطيع الرد على المواضيع
لا يمكنك اضافة مرفقات
لا يمكنك تعديل مشاركاتك

BB code is متاحة
كود [IMG] متاحة
كود HTML معطلة

الانتقال السريع

المواضيع المتشابهه
الموضوع كاتب الموضوع الأقسام الرئيسية مشاركات المشاركة الاخيرة
Solving Initial Value Problem by Using Simulation Technique أبو ذر الفاضلي اللغة الانجليزية 0 08-06-2014 01:39 AM
دراسات في فلورة المملكة العربية السعودية أم يوسف 5 كتب الأحياء المصورة 5 11-03-2012 03:10 PM
الأشعث بن قيس الكندي أم ذر كتب التراجم والسير بصيغ أخرى 1 28-08-2011 03:47 AM
Surgical Anatomy and Technique أبو ذر الفاضلي كتب الطب المصورة 2 27-04-2011 01:08 PM
الأشعة السينية أم ذر كتب الطب بصيغ أخرى 0 05-06-2010 06:50 PM


الساعة الآن »05:54 PM.


 Arabization iraq chooses life
Powered by vBulletin® Version 3.8.9 Beta 3
.Copyright ©2000 - 2018, Jelsoft Enterprises Ltd